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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 芯片验证测试及失效分析
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楼主: jyzhang

芯片验证测试及失效分析

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林小明
发表于 2018-11-17 19:38:03 | 显示全部楼层
挺好的
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风展位
发表于 2018-11-28 11:17:53 | 显示全部楼层
失效分析？是指芯片 测试出现问题的解决方案吗？
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zj9908
发表于 2019-3-20 16:35:34 | 显示全部楼层
又是骗钱货
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baseegg
发表于 2019-3-29 06:05:05 | 显示全部楼层
DAT2-10014 Interface Integrated Circuit (IC2) Requirements Specification....docx
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li-fei-0105
发表于 2019-4-3 18:52:33 | 显示全部楼层

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fgann112928
发表于 2019-4-6 16:57:50 | 显示全部楼层
:):):):):)
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LanceBurton
发表于 2019-4-24 16:28:27 | 显示全部楼层
谢谢分享
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nick_liu
发表于 2019-4-24 19:40:03 | 显示全部楼层
good resourse
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kewww
发表于 2019-4-27 20:58:40 | 显示全部楼层
学习一下，感觉不错
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caoshujia
发表于 2019-4-28 15:59:24 | 显示全部楼层
谢谢分享
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