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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析
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楼主: seeklot

基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

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lilyzh
发表于 2008-12-28 23:22:27 | 显示全部楼层
感謝分享
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viandy
发表于 2008-12-30 13:25:23 | 显示全部楼层
thanks a lot
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00FA
发表于 2008-12-31 11:02:53 | 显示全部楼层
是一篇营养不良的国内综述性文章，没有深度，接触过的朋友可以直接掠过，没必要下载
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xueyuan20
发表于 2009-1-6 21:49:48 | 显示全部楼层
谢谢！
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硅芯四溅
发表于 2009-1-9 17:49:58 | 显示全部楼层
好东西，谢谢楼主！
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wangjm
发表于 2009-3-1 16:42:27 | 显示全部楼层
谢谢你的分享
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showyda
发表于 2009-3-4 06:25:12 | 显示全部楼层
op好东西，谢谢楼主！
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defoliation
发表于 2009-3-4 12:22:10 | 显示全部楼层
good。。。。。。。。
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lookftps
发表于 2009-3-9 12:15:38 | 显示全部楼层
这个好，很感谢～
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icsystem
发表于 2009-3-9 17:01:29 | 显示全部楼层
学习中
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