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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析
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楼主: seeklot

基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

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hawkingy
发表于 2008-8-26 10:40:52 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
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hawkingy
发表于 2008-9-4 15:20:19 | 显示全部楼层
谢谢分享啊~
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jyt853
发表于 2008-9-4 18:39:12 | 显示全部楼层
thanks for share
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seeklot
 楼主| 发表于 2008-11-25 10:04:18 | 显示全部楼层
好东西
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dinq123
发表于 2008-11-25 15:24:29 | 显示全部楼层
谢谢分享！
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frankqs
发表于 2008-12-20 23:41:41 | 显示全部楼层
一篇文章
个人感觉一般
呵呵！
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niulinux
发表于 2008-12-21 05:36:08 | 显示全部楼层
 这个不错
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scliscli
发表于 2008-12-24 09:18:06 | 显示全部楼层
very good
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alex_yeh
发表于 2008-12-24 14:23:26 | 显示全部楼层
很棒的資料，謝謝您。
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lilyzh
发表于 2008-12-28 23:21:05 | 显示全部楼层
感謝分享
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