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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析
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楼主: seeklot

基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

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xycai
发表于 2009-3-14 16:29:58 | 显示全部楼层
为了大家赚取信元
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playme
发表于 2009-3-26 17:20:20 | 显示全部楼层
谢谢。。。。
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dai.image
发表于 2009-4-13 03:50:59 | 显示全部楼层
謝謝樓主發帖，頂上去。
謝謝樓主共享，頂上去。
謝謝樓主共享，頂上去。
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augustine
发表于 2010-1-24 00:18:43 | 显示全部楼层
good thing.
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tbb2009
发表于 2010-1-26 09:54:30 | 显示全部楼层
take a look...
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your87
发表于 2010-2-4 21:59:14 | 显示全部楼层
thanks
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alenanderson
发表于 2010-2-5 20:36:40 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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shengfang_1985
发表于 2010-7-28 10:14:25 | 显示全部楼层
xiexie
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sailor_wuyong
发表于 2010-7-30 12:51:54 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享！
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tjushaokai
发表于 2010-8-7 22:43:49 | 显示全部楼层
需要，谢谢分享
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