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查看: 2574|回复: 5

[资料] hot-carrier-induced mismatch drift_A reliability issue for VLSI circuits

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发表于 2011-8-14 18:34:36 | 显示全部楼层 |阅读模式

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A study of hot-carrier-induced mismatch drift_A reliability issue for VLSI circuits

abbr_928c5d97e38cd914501e00eea591e97d.pdf

208.41 KB, 下载次数: 125 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2011-8-15 08:41:57 | 显示全部楼层
dddddddddddddd
 楼主| 发表于 2011-8-15 11:26:26 | 显示全部楼层
是不错的论文。
发表于 2013-3-28 17:32:42 | 显示全部楼层
回复 1# fancy17


   dddddddddddd
发表于 2013-3-28 17:32:44 | 显示全部楼层
回复 1# fancy17


   dddddddddddd
发表于 2015-10-1 16:09:51 | 显示全部楼层
.......
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