在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 21170|回复: 84

[资料] [Springer 2011 Ebook] Reliability of Nanoscale Circuits and Systems

[复制链接]
发表于 2010-12-25 12:17:39 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
本帖最后由 helianalog 于 2010-12-25 20:59 编辑

//添加封面---helianalog
Screen shot 2010-12-25 at 8.57.24 PM.png

Reliability of Nanoscale Circuits and Systems-Methodologies and Circuit Architectures.rar (4.69 MB, 下载次数: 1096 )

2011 (end of 2010) Springer Integrated Circuits and Systems series

This book cover reliability issue of nanoscaled CMOS device and circuit


which becomes more and more inportant as the technology scales down




The following link is the main page of this book
If you are interested in this book, you can visit this site for more details
http://www.springer.com/engineering/circuits+%26+systems/book/978-1-4419-6216-4


Enjoy it!!

发表于 2010-12-25 16:06:24 | 显示全部楼层
下来看看,谢谢。
发表于 2010-12-25 16:08:55 | 显示全部楼层
Thanks for your sharing!!
发表于 2010-12-25 18:18:02 | 显示全部楼层
这么新版本的书都能弄到,楼主太厉害了。
发表于 2010-12-25 18:19:56 | 显示全部楼层
文件不完整,缺少第7,8章节。
发表于 2010-12-25 18:29:38 | 显示全部楼层
kankan xian
发表于 2010-12-25 18:30:17 | 显示全部楼层
电路的可靠性是一个比较难的东东,只有对可靠性有一定的了解才能设计出好的IC啊。
发表于 2010-12-25 19:05:34 | 显示全部楼层
呵呵,谢谢楼主
发表于 2010-12-25 21:20:29 | 显示全部楼层
thanks alot
发表于 2010-12-25 22:40:39 | 显示全部楼层
xiexie
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-12-19 00:13 , Processed in 0.022035 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表