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关于带隙基准的问题(有经验的兄弟指点一下)!

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发表于 2007-4-30 22:05:21 | 显示全部楼层 |阅读模式

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最近没事情做,做了几个bandgap电压基准
用SMIC.18工艺
一直有许多疑问
温度系数仿真下来可以大概10 PPM/C
(各个工艺角都跑了)
但是发现每个工艺角下的Vref都是偏差很大啊!
例如:在20C下,在FF角下,Vref=1.17 V.在TT角下,Vref=1.155 V
在SS角下,Vref=1.145 V
就是说明将来流出来的片子,片子间的输出Vref将有很大的偏差!
这对于A/D来说会不会是致命的?
听师姐说,每个A/D在电路工程师应用时,要调满量程的,所以关系不大
但是我老是觉得这工作量太大了吧!效率忒低了
发表于 2007-4-30 22:50:37 | 显示全部楼层

同疑惑

同疑惑:
不同的工艺角下差数差别那么多,流片后的冬冬会不会有问题啊?能用吗?
发表于 2007-5-1 03:52:16 | 显示全部楼层
很少adc 会运行在 full scale, 大部分都是-1dB.
-1dB 就是90% full scale. 10mV 的变化无所谓的。
ADC 不会对这么点区别敏感
发表于 2007-5-1 15:54:35 | 显示全部楼层
一般做运放都需要Trimming吧
发表于 2007-5-24 22:37:37 | 显示全部楼层
仿真和实际流片出来是肯定有差别的。特别是到了量产阶段。每个批次的差别也是很大的。这样的我们只能加入trim 。只要修调到能隙值,就能保证温度系数基本上很小。
发表于 2007-5-25 10:31:53 | 显示全部楼层

回复

我之前也仿过,差别也很大
发表于 2007-5-25 17:16:00 | 显示全部楼层
非常正常的一个现象。。不用担心。。
等你tapout后,你会发现vref也会有几个milli的向上或者向下的漂移。
发表于 2007-6-11 23:54:39 | 显示全部楼层
由于不同的工艺模型所产生的偏差,这是正常现象。
发表于 2007-6-12 02:43:57 | 显示全部楼层
To derease the BGR deviation, 3*sigma (or 6*sigma) design is a must. Then, after wafer-out, you could find 99.6% die drop in your target range.
发表于 2007-6-12 15:53:36 | 显示全部楼层
不是fullscale,SNDR这些不变就没事。
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