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copper_hou 发表于 2024-6-15 09:12 Vg增加时的Id突增,GI漏流会是一个问题点,需要验证GI是否发生了击穿。
Azukinana 发表于 2024-6-17 19:35 不好意思,您说的GI漏流可以说得再具体一点吗?还有就是如何验证? 谢谢
copper_hou 发表于 2024-6-18 09:41 GI就是Gate Insulator,GI的击穿漏流是transistor电性失效的常见原因之一,可以测试transistor G-D、G-S ...
Azukinana 发表于 2024-6-18 19:30 谢谢回复。我测了一下G-D、G-S的直流电阻,都是在兆欧的数量级,应该没什么问题吧(NMOS管)?但是不加电 ...
copper_hou 发表于 2024-6-19 12:48 G-D、G-S直流电阻Mohm级已经是漏流了。回推前面的那个生产制程出问题了吧。 ...
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