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[求助] 在ADC中NTF(z)在w=pi处的增益为何会影响每个step跳变的次数?

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发表于 2022-5-5 12:45:56 | 显示全部楼层 |阅读模式

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如题,在sigma-delta ADC中,每个setp中变化的次数是不一样的,从书中说是和NTF函数的增益相关;

高增益的NTF会使跳变次数增加,从而提高精度;

这个原理应该怎么解释的?

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发表于 2022-5-5 15:27:05 | 显示全部楼层
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发表于 2022-9-29 16:55:51 | 显示全部楼层
本帖最后由 bjhdwrj 于 2022-9-29 22:00 编辑

最近做多位SDM遇到过左图的问题,谐波失真比较严重,提高NTF带外最大增益能解决这个问题。从CIFF结构来说比较好理解,最后输入到量化器的信号相当于输入信号叠加量化噪声,如果NTF带外最大增益过小,那么被量化信号的波动较小,最终输出码流存在较大的死区,严重情况可以让SDM精度直接退化为量化器精度

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