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[讨论] 金属密度过大导致过刻蚀还是欠刻驶?

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发表于 2021-10-15 10:58:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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网上说:“在全芯片来看,如果总的金属密度过大,那么需要刻蚀掉的金属就少,这样很容易刻蚀过量,反之,如果总的金属密度过小,则需要刻蚀掉的金属就多,很容易造成刻蚀不净。”这个原因是什么呢?刻蚀窗口怎么决定大小呢?
发表于 2021-10-15 13:55:09 | 显示全部楼层
不知道你这个是不是Cu工艺? Cu不好做刻蚀,主要是淀积完了做CMP,金属密度的差别过大会导致CMP的结果不平。  
另外刻蚀窗口我记得是刻蚀的槽/孔开口的深宽比决定的,一般开口越深越窄越难刻蚀。  

印象中是这样。我不是做工艺的,欢迎纠正我~
发表于 2021-10-15 14:33:03 | 显示全部楼层
欠刻。
 楼主| 发表于 2021-10-15 15:51:34 | 显示全部楼层


jmf 发表于 2021-10-15 13:55
不知道你这个是不是Cu工艺? Cu不好做刻蚀,主要是淀积完了做CMP,金属密度的差别过大会导致CMP的结果不平 ...


“金属密度过大,那么需要刻蚀掉的金属就少,这样很容易刻蚀过量”这是过刻吗?
发表于 2021-10-19 14:16:54 | 显示全部楼层
首先看是Cu工艺还是AL工艺,如果是Cu工艺,则不存在刻蚀金属的问题,Cu工艺是现在电解质层挖槽,如果pattern density 较大的话,刻蚀的过程中产生的polymer比较多,导致刻蚀速率低,从而可能产生density大的地方刻蚀不足的问题,刻蚀不足有可能导致与下层金属断路的问题。
另外,刻蚀完形成槽后,再往槽内填Cu,最后CMP,CMP过程中,pattern density大的地方磨掉的就少,这样就会造成盖地不平的现象
 楼主| 发表于 2021-10-19 16:24:26 | 显示全部楼层


jenyusir 发表于 2021-10-19 14:16
首先看是Cu工艺还是AL工艺,如果是Cu工艺,则不存在刻蚀金属的问题,Cu工艺是现在电解质层挖槽,如果patter ...


AL工艺呢
发表于 2021-10-19 16:34:46 | 显示全部楼层


AL工艺是先把AL涨上去,然后再去刻蚀AL,把我们需要的pattern留下,不需要的就刻蚀掉。如果是AL工艺就和你说的是一致的咯。应该是这样子
 楼主| 发表于 2021-10-19 20:50:45 | 显示全部楼层


jenyusir 发表于 2021-10-19 16:34
AL工艺是先把AL涨上去,然后再去刻蚀AL,把我们需要的pattern留下,不需要的就刻蚀掉。如果是AL工艺就和 ...


就是AL工艺中,金属密度大了造成过刻蚀没懂
发表于 2021-10-20 10:23:22 | 显示全部楼层


ZMOS 发表于 2021-10-19 20:50
就是AL工艺中,金属密度大了造成过刻蚀没懂


是这样理解哦,AL工艺中,pattern density大,那就是需要刻蚀掉的AL就相对少;相比pattern density 小的地方,需要刻蚀掉的AL就多。刻蚀过程中刻蚀气体比例调整是要能达到刻蚀完全,那density过大的地方就可能导致过刻蚀哦,density小的地方就可能刻蚀不足。
我是这样理解的,没有做过工艺也比较难理解

发表于 2021-10-20 15:55:58 | 显示全部楼层
和你工艺有关系,不能一概而论
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