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楼主: ZMOS

[讨论] 金属密度过大导致过刻蚀还是欠刻驶?

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 楼主| 发表于 2021-10-21 09:30:16 | 显示全部楼层


   
jenyusir 发表于 2021-10-20 10:23
是这样理解哦,AL工艺中,pattern density大,那就是需要刻蚀掉的AL就相对少;相比pattern density 小的 ...


有人说和刻蚀窗口有关,这个刻蚀窗口怎么理解?
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发表于 2021-10-21 17:19:33 | 显示全部楼层
1)在全芯片来看,如果总的金属密度过大,那么需要刻蚀掉的金属就少,这样很容易刻蚀过量,反之,如果总的金属密度过小,则需要刻蚀掉的金属就多,很容易造成刻蚀不净。  2)从局部来看,在进行平整化工艺的时候,金属密度较低的区域,相比于金属密度较高的区域会形成更薄的表面,即可能产生凹陷,这样在进行后续生产的时候,可能会造成大量的器件工艺波动,严重影响生产良率以及器件性能。
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发表于 2021-12-13 21:33:48 | 显示全部楼层
这应该是说负载效应吧。在全芯片来看,如果总的金属密度过大,那么需要刻蚀掉的金属就少,消耗掉的反应物就少,刻蚀速率是偏高的,易过刻。反之,总的金属密度过小,则需要刻蚀掉的金属就多,消耗的反应物就多,刻蚀速率偏低,易残留。这里的过刻或残留是刻蚀条件相同的情况下。
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 楼主| 发表于 2021-12-14 09:37:59 | 显示全部楼层


   
Zgy198701 发表于 2021-12-13 21:33
这应该是说负载效应吧。在全芯片来看,如果总的金属密度过大,那么需要刻蚀掉的金属就少,消耗掉的反应物就 ...


谢谢,这个解释就通俗易懂了
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