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hitzhabc 发表于 2021-1-26 10:14 没办法解决。主要是注意是否是衬底偏置效应导致的问题。这个抽取方法会导致cgs和cgd被重复计算,对于交流 ...
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ZMOS 发表于 2021-1-26 10:05 你这是多少nm的制程,有没有注意LOD WPE等二级效应?这些效应对器件的Vth和Idsat是有很大影响的 ...
326098324 发表于 2021-1-26 10:08 28nm的 管子的Vth确实会有点变化 请问如何尽量减少这些效应呢?
hitzhabc 发表于 2021-1-26 09:59 多数情况下,你电路中的管子的finger到calibre抽参数之后,变成了M,可能是这个原因导致的前后仿差异比较大 ...
krr 发表于 2023-7-3 11:04 前辈你这里说的pex后,finger变成了m,请问下这个是在哪个文件里看呀?;我检查了我的版图里的finger和m ...
hitzhabc 发表于 2023-7-3 11:20 这个就是这样,目前我也不知道咋解决。
326098324 发表于 2021-8-19 11:47 几个月后来回答 确实应该是WPE等效应的影响 当初是第一次画28nm的版图 版图以及dummy管的布局不合理导致 ...
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