LDO测试发现简并态问题

lnihao · 发表于 2020-2-2 11:47:03

xmclogic 发表于 2020-2-1 23:25
那可以尝试测一下PMOS功率的栅极电压

FIB引了一次来测，因为没ESD保护，测试过程很容易烧，示波器探头碰上去就烧了，所以这个方法先搁置，看看还能不能从其他方向入手

lnihao · 发表于 2020-2-2 12:05:18

tulipyjx 发表于 2020-2-2 09:37
建议用示波器看看信号是否出现了振荡。

输出3.3V的时候无震荡，输出4V的时候有震荡，震荡的原因一直没找到

xmclogic · 发表于 2020-2-2 12:10:48

lnihao 发表于 2020-2-2 11:47
FIB引了一次来测，因为没ESD保护，测试过程很容易烧，示波器探头碰上去就烧了，所以这个方法先搁置，看看 ...

是因为没有ESD保护烧掉的，还是因为探头负载引起振荡烧掉的？

tulipyjx · 发表于 2020-2-2 12:13:14

lnihao 发表于 2020-2-2 12:05
输出3.3V的时候无震荡，输出4V的时候有震荡，震荡的原因一直没找到

建议： trans仿真看看，减小trans仿真时的maxstep,并模拟电源瞬态上电过程。

lnihao · 发表于 2020-2-2 12:23:32

xmclogic 发表于 2020-2-2 12:10
是因为没有ESD保护烧掉的，还是因为探头负载引起振荡烧掉的？

电路中每个支路的功耗最多就是uA级别，外部负载源也是拉mA级别的电流，电路有震荡的话，表现为控制环路的支路不断充放电，因为电流是限制住的，不会有异常大电流，个人觉得这款LDO不会因为震荡烧芯片

lnihao · 发表于 2020-2-2 12:34:50

ccp106 发表于 2020-2-2 10:55
我理解可能还是输出buffer的稳定性问题，如果出现兼并的问题，你也只能是BG的兼并点的问题，但你分析BG没问 ...

如果是小信号的稳定性问题，就目前自己遇到补偿不足的现象来看，一般表现为基于目标值的震荡，但是这次遇到的现象是直接去了异常的4V，并且上下20mV左右的小幅度震荡。更像是一种大信号或者说一种电路状态的异常了。加寄生的仿真，小信号稳定性确实影响大，大信号方面来看的话，可能差别不大了

lnihao · 发表于 2020-2-2 13:52:08

tulipyjx 发表于 2020-2-2 12:13
建议： trans仿真看看，减小trans仿真时的maxstep,并模拟电源瞬态上电过程。
...

好的，再多试试仿真能不能仿出来

Brynn · 发表于 2021-6-22 15:24:42

君海半导体技术（上海）有限公司，主攻 FIB ....

hawk1829 · 发表于 2022-11-23 23:30:49

你好，关于LDO测试发现简并态问题可以请教一下吗

haichao89 · 发表于 2022-11-24 10:11:19

楼主问题解决了吗？

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