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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ic 测试原理
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楼主: liaochubiao

ic 测试原理

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szxujin2008
发表于 2008-6-19 16:33:48 | 显示全部楼层
数字集成电路电流测试技术研究 » 发表回复        预览帖子       
                                                                        szxujin2008                                                       
                               
                       
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popfly51
发表于 2008-6-19 16:34:52 | 显示全部楼层
看了，写的很详细，对测试很有帮助。
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tx_hust@163.com
发表于 2008-6-23 10:07:42 | 显示全部楼层
好东西啊，顶起来
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tx_hust@163.com
发表于 2008-6-23 10:09:56 | 显示全部楼层
好啊 ，谢谢楼主
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whxx
发表于 2008-6-26 23:20:22 | 显示全部楼层
下了，谢楼主分享！
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amin2008
发表于 2008-7-4 22:45:59 | 显示全部楼层
了解一下
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DINGYUG
发表于 2008-9-28 12:30:29 | 显示全部楼层
:kiss:
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zhouyxqh
发表于 2008-9-28 21:39:39 | 显示全部楼层
谢谢~~~~~~~
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hainihao
发表于 2008-9-28 21:52:10 | 显示全部楼层
luguo
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colindeng
发表于 2008-10-16 11:13:38 | 显示全部楼层
确实是好东西......
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