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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ic 测试原理
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楼主: liaochubiao

ic 测试原理

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rosaxin
发表于 2008-3-3 17:19:05 | 显示全部楼层
一般，不太实用
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风晨林
发表于 2008-3-4 09:31:42 | 显示全部楼层
先顶一下了
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rick_jlc
发表于 2008-3-4 22:28:21 | 显示全部楼层
不错，看看先
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raislin
发表于 2008-3-5 09:22:45 | 显示全部楼层
顶而下之

//faint, an 80s book. If you're an engineer in 21st century, ignore it.
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yautou
发表于 2008-3-8 17:23:15 | 显示全部楼层
this paper seen to be download,
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zlh95222
发表于 2008-3-15 22:48:07 | 显示全部楼层
谢谢~看看先
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cool288
发表于 2008-3-16 15:41:10 | 显示全部楼层
thanks
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xinghuajun
发表于 2008-3-18 04:12:45 | 显示全部楼层
谢谢。。。。。。
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binbin4756
发表于 2008-3-18 13:27:12 | 显示全部楼层
看看，希望还可以3
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booking
发表于 2008-3-19 00:04:46 | 显示全部楼层
Dowload it and 3S
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