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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ic 测试原理
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楼主: liaochubiao

ic 测试原理

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oscargo
发表于 2007-12-7 11:51:16 | 显示全部楼层
好東西--------值得
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alex_bai
发表于 2007-12-7 15:38:09 | 显示全部楼层
bu cuo a
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hahaez
发表于 2007-12-8 12:45:04 | 显示全部楼层
感謝你的分享
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luoyi_51
发表于 2007-12-8 21:18:44 | 显示全部楼层
呵呵，下了，可是还没有看 ！ 不知道怎么样？ 怎么楼上的没有什么评测的呢 ！！！
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songjinrong
发表于 2007-12-9 19:23:15 | 显示全部楼层
谢谢分享
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mingho
发表于 2007-12-12 03:53:28 | 显示全部楼层
thanks
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gl_master
发表于 2007-12-13 16:17:22 | 显示全部楼层
sharing  the wonderful
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myee
发表于 2007-12-17 00:04:01 | 显示全部楼层
好东西
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jianxin_pan
发表于 2008-1-18 23:54:24 | 显示全部楼层
先下下来看看，谢了@
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haianxian
发表于 2008-1-25 09:25:37 | 显示全部楼层
在很多地方都见过
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