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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ic 测试原理
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楼主: liaochubiao

ic 测试原理

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lilyzh
发表于 2008-12-28 23:16:32 | 显示全部楼层
谢谢先~看看
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00FA
发表于 2008-12-31 10:58:31 | 显示全部楼层
是那种测试？ate还是simulation
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frankaurora
发表于 2008-12-31 13:18:03 | 显示全部楼层
thanks!!
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macrozl
发表于 2009-2-6 16:03:31 | 显示全部楼层

xie

thanks
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mayanzhao
发表于 2009-2-17 09:46:30 | 显示全部楼层
谢谢楼主了。。。
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mayrain
发表于 2009-2-17 10:52:54 | 显示全部楼层
好东西阿！！！！！
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tjylc
发表于 2009-2-18 22:43:08 | 显示全部楼层

ll

llllllllllllll
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ycbxbxb
发表于 2009-3-20 18:52:02 | 显示全部楼层
xiexie
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lcxxcl
发表于 2009-3-20 19:32:33 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享！！！
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bobxx
发表于 2009-3-21 00:10:46 | 显示全部楼层
下下来看看先
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