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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ic 测试原理
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楼主: liaochubiao

ic 测试原理

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aisiqin
发表于 2009-6-8 21:17:07 | 显示全部楼层
好东西要顶
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iamkenhuang
发表于 2009-10-22 15:47:30 | 显示全部楼层
hehe hao shu
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cdchen
发表于 2009-10-23 10:13:36 | 显示全部楼层
貌似不错
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terceltang
发表于 2009-11-1 15:34:53 | 显示全部楼层
谢谢，非常不错的一本书啊
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caoyongl.hust
发表于 2009-11-2 19:31:48 | 显示全部楼层
谢谢分享~~~~~
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hsh22
发表于 2009-11-3 00:45:56 | 显示全部楼层
看看~~~~~~
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hsh22
发表于 2009-11-3 00:48:01 | 显示全部楼层
晕~~~是数字的，还以为是模拟的那
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zhang2_1225
发表于 2009-11-9 16:12:03 | 显示全部楼层
不知道怎么样
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chaplin11
发表于 2009-11-14 17:35:35 | 显示全部楼层
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kllim
发表于 2009-11-14 18:41:43 | 显示全部楼层
Thanks a lot for share
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