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查看: 2786|回复: 6

[求助] 压控环形振荡器在CP测试时出现频率翻倍!!!

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发表于 2018-11-9 16:12:08 | 显示全部楼层 |阅读模式

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设计了一个Ring_OSC(设计方法如图1)搭载Testchip进行,最后测试的时候有些die竟然出现了频率翻倍现象一直无法理解,有没有大神帮忙解释下是什么原因导致的!万分感谢!感觉要是能稳定倍频可以获得诺贝尔奖【手动滑稽】PS:
      1、总共搭了3条ring,分别是INV,NAND,NOR,201级
      2、wafer map中数据是周期时间,右下角有对应的前后仿真值
      3、封装测试中正常上电(先电源上电再打开EN端)倍频消失,先打开EN端再上电源可以出现倍频
      4、改变MOS管的宽长比再次流片可以得到优化

图片5.png
图片3.png
图片4.png
图片6.png
发表于 2018-11-9 18:48:14 | 显示全部楼层
回复 1# Qucklly


  级数是201级?如果级数太多是有可能出现谐波.
 楼主| 发表于 2018-11-11 08:47:54 | 显示全部楼层
回复 2# dgy_hy  对的,是201级的电路,可以帮忙解释下出现谐波的原理么?或者有没有啥资料可以参考下。万分感谢~
发表于 2018-11-11 11:57:16 | 显示全部楼层
找到原因了吗,
核心震荡频率是多少,80Meg吗
 楼主| 发表于 2018-11-11 16:58:12 | 显示全部楼层
回复 4# gxy_831010
基波频率和后仿结果相近的那个,周期在几百ns,不同种的频率不一样的。还没找到原因啊,你也有?
发表于 2018-11-11 20:09:39 | 显示全部楼层
周期几百n,是16分频后的还是核心震荡频率
没有,我只是好奇
发表于 2018-11-12 15:50:41 | 显示全部楼层




    16分频前的信号能看吗?应该先排除是否是分频器的问题
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