求各位大神指点，芯片latch up测试出现的诡异现象

yediaoling · 发表于 2017-7-22 13:24:32

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前几天作了芯片的latch up车规测试，I/O PIN -200mA测试时测试报告显示正常没问题的，但是几乎所有I/O PIN post_trigger current的电源电流Idd竟然都比pre_trigger的电流值小10mA左右，但是拿回来芯片FT测试时发现上电静态电流比测试前的大6mA，且DCDC的输出default电压值发生了改变，芯片I2C也通信不了，求大神指点方向呀

yediaoling · 发表于 2017-7-23 15:35:06

先自己顶一下，不要沉下去了

demon0821 · 发表于 2017-8-19 15:50:39

这个应该就是失效了啊
报告只是根据端口特性判断是否失效

而你芯片功能的是否存在，也是一个失效的判断标准啊。

peterlin2010 · 发表于 2017-8-19 17:16:59

前几天作了芯片的latch up车规测试，I/O PIN -200mA测试时测试报告显示正常没问题的，但是几乎所有I/O PIN ...
yediaoling 发表于 2017-7-22 13:24

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latch Up 标准是 -250ma 怎会是 200ma??

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