运算放大器的输入端为什么要额外进行ESD的测试

烤五花 · 发表于 2016-9-29 22:30:57

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柯明道老师的一书中提到了：除了做I/O口、Pin-to-pin、Vdd-Vss等常规ESD测试以外，对于一些特别的电路，比如：运算放大器，测试人员通常会对其两个差分输入端做额外的ESD测试。请问各位大神、前辈，常规的pin-to-pin、I/O口测试是涵盖了这两个输入端的，为什么还要对运放电路做这个额外的测试呢？

烤五花 · 发表于 2016-10-9 11:22:08

有没有知道的大神，帮帮忙呀！

zengjie · 发表于 2016-10-11 16:22:22

一般来说，ESD测试要确保任意两个pin之间的ESD等级都能达到防护要求。对于差分放大器，两个差分输入端特别脆弱（柯明道一般举的例子就是两个输入MOS的gate），所以一定要测一下。

烤五花 · 发表于 2016-10-11 16:43:38

回复 3# zengjie 十分感谢您！
我还想问问：那在设计差分输入端的ESD防护时，有没有什么特别的要求呢？还是和普通的输入端使用同样的ESD防护器件就可以了么？

zengjie · 发表于 2016-10-12 17:43:40

回复 4# 烤五花

这个一般要具体问题具体分析吧，ESD防护设计以达到所需要的防护等级为目的。如果普通的设计能达到要求，就不需要其他特殊考虑了。没有具体的电路，这个确实不太好说。。。

西鄙人 · 发表于 2017-1-18 13:41:37

[求助] 运算放大器的输入端为什么要额外进行ESD的测试

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