DFT 在SOC中应该怎么考虑

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DFT 在SOC中应该怎么考虑

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课程介绍

随着芯片规模的增加，如何以经济有效的方式测试IC,并且获得较高的测试品质,始终是摆在设计公司面前的一个非常重要的课题.DFT(可测性设计)就是一种系统化且高效率的解决此类问题的方法。DFT实训课程会涵盖现有常用的DFT方法，包括扫描合成(Scan synthesis),内建自我测试(BIST),自动测试向量产生(automatic test pattern generation),及错误模型(fault simulation)等各个方面的内容.课程依托百万门级的SOC项目，系统介绍了在实际项目中，在现有资源情况下如何考虑所面临的问题，并最终采取有效的方法解决测试品质及测试成本等问题。课程从问题出发，深入探讨了解决问题的方法及在解决问题的过程中可能遇到的各类问题，最终帮助学员成为一名合格的DFT工程师。

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课程大纲

1、DFT简介 (3学时)
DFT所解决的问题
DFT在芯片设计流程中的作用
DFT概念常用方法介绍
主流DFT EDA工具介绍

2、SOC项目介绍 (5学时)
项目DFT架构
如何选择合适的DFT solution
项目中的DFT实现

3、Scan synthesis (6学时)
Scan 概念及方法介绍
Scan实现及各种常见问题的解决方法
Scan DRC violation介绍及解决方法
项目实践及问题解决

4、ATPG (12学时)
概念介绍
Fault models
Fault simulation
ATPG DRC violation的解决方法
ATPG pattern generation
测试压缩概念及方法
ATPG pattern 验证
项目实践及问题解决

5、JTAG/1500 (6学时)
概念方法介绍
JTAG及其扩展应用
JTAG实现及验证
项目实践及问题解决

6、BIST/MBIST(8学时)
概念方法介绍
Memory类型介绍及其BIST solution
MBIST 算法介绍
MBIST 验证
项目实践及问题解决

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一些免费IC学习视频
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------------ 书籍资料 -----------------------------------

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------------ 基础 -----------------------------------
           
数字电路设计透视课程        
Verilog RTL编程实践         
Perl在芯片验证中的实践   
数字逻辑综合工具实践 - DC   
数字逻辑仿真工具实践 - VCS  
CDC                        
------------ 设计进阶  -----------------------------------
IP项目实践 - AHB_SRAM设计与验证
SoC系统设计课程               
------------ 中端、后端实现进阶  -----------------------------------
可测试性设计理论和实践        
可测试性设计理论和实践 - DFT  
数字后端物理设计实践-ICC  
静态时序分析技术实践      
------------ 验证进阶  -----------------------------------
验证课 SystemVerilog Verification      
SystemVerilog Assertion 断言理论与实践
SystemVerilog 验证方法学              
ASIC SystemVerilog 功能验证            
UVM通用验证方法学基础

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