在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 2275|回复: 0

[求助] 请教个ADC测试问题

[复制链接]
发表于 2016-2-18 19:56:10 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
大家好,前阵子流了个AD,目前正在测试,测试的基本结构是AD的输出接到一个数据buffer(D触发器),然后这个buffer来驱动逻辑分析仪 。但我发现当buffer的输出端接到逻辑分析仪的探头时,测试板的待采样模拟信号被干扰的很厉害,如果不接探头,板上的模拟信号质量就很好,请教这有可能是什么原因造成的?逻辑探头的负载为100k//8pf,AD的采样率为40MHz,图中的信号约1MHz

未干扰

未干扰

已干扰

已干扰
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-15 04:56 , Processed in 0.016677 second(s), 10 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表