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[求助] 求教微电子工艺中Metal密度要求原因,metal溅射、刻蚀后如何保证硅片的平整度。

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发表于 2015-11-13 10:02:09 | 显示全部楼层 |阅读模式

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工艺小白,请教:在rule里面金属密度有范围要求,一般为硅片平整度要求,工艺越先进要求越高,仅仅为平整度要求吗,而每次经过metal溅射、刻蚀工艺后, 氧化层介质层生长后,如何进行平整度的工艺调整,是叫CMP吗,如果不是能不能解释下如何进行的,非常感谢。
发表于 2016-3-23 18:58:05 | 显示全部楼层
CMP是全局平坦化工艺,精度很高,但是就是代价比较高,需要对工艺进行摸索,价格较高
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