在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

搜帖子
查看: 6436|回复: 22

[求助] 谁有新书?Hot carrier Degradation in Semiconductor devices

[复制链接]
发表于 2015-9-24 20:41:01 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

×
Hot Carrier Degradation in Semi-Devices.jpg
发表于 2015-10-1 23:55:29 | 显示全部楼层
回复 1# suk.qi

Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices.part1.rar

14 MB, 下载次数: 289 , 下载积分: 资产 -5 信元, 下载支出 5 信元

Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices.part2.rar

1.72 MB, 下载次数: 159 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2015-10-2 08:21:16 | 显示全部楼层
good!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2015-10-2 13:47:27 | 显示全部楼层
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2015-10-2 17:21:29 | 显示全部楼层
good job
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2015-10-8 18:45:16 | 显示全部楼层
look look!
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2015-10-12 01:01:53 | 显示全部楼层
gooooooooooooooooooooooooooooood
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2015-10-18 20:29:08 | 显示全部楼层
kankan
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2017-3-29 11:56:30 | 显示全部楼层
good, 学习一下
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2017-6-2 20:29:11 | 显示全部楼层
Hot-carrier reliability of MOS VLSI circuits
回复 支持 反对

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /3 下一条

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-9-9 03:52 , Processed in 0.020951 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表