插scan chain遇到的问题

dzkxybx · 发表于 2015-7-16 16:36:30

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本帖最后由 dzkxybx 于 2015-7-17 08:42 编辑

小弟，最近刚接触DFT，刚刚熟悉了流程。在用一个设计练手。
在create_test_protocol之后，第一次跑dft_drc，出现了D1，D9和D14的Violation。

分析了下设计，D1的问题是模块有上升沿launch，下降沿capture的路径。我在综合的时候对所有寄存器做了clock_gating，导致了下降沿的寄存器的ICG使用了一个unscan的cell，从而导致后面的寄存器时钟不可控。
想问一下，类似这种电路，如何清除Violation，并且如何提高覆盖率？

对于D9和D14这2个，看不明白啥意思，也不知道怎么清除。

希望得到帮助，谢谢

郑伟 · 发表于 2020-11-20 20:11:20

楼主，我想知道D1怎么清除，我所有的寄存器都不可控，我还在网上找了一个已经综合成功的例子，结果dft_drc后也是显示所有的寄存器不可控

thjan65 · 发表于 2020-11-20 20:39:47

dft compiler student guide

chengtwa · 发表于 2021-11-10 23:05:30

thjan65 发表于 2020-11-20 20:39
dft compiler student guide

could u help provide this user guide to me? thanks a lot~ ^_^

thjan65 · 发表于 2021-11-11 07:21:22

chengtwa 发表于 2021-11-10 23:05
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[求助] 插scan chain遇到的问题

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