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[求助] IR-drop静态分析和动态分析的RC corner

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发表于 2014-11-16 01:07:13 | 显示全部楼层 |阅读模式

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请问,进行IR-drop分析时,静态分析和动态分析是不是要设不同的RC corner。看到某foundry 65nm的sign-off说明要求用动态分析+cworst进行IR-drop sign-off ,因此怀疑静态分析是不是应该用rcworst corner?请高人指点,谢谢。
发表于 2014-11-16 08:50:16 | 显示全部楼层
用typical corner或者ff corner ,
发表于 2014-11-16 18:20:20 | 显示全部楼层
楼主指的是参数抽取时候是用C,还是RC
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