在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 3686|回复: 2

[求助] IR-drop静态分析和动态分析的RC corner

[复制链接]
发表于 2014-11-16 01:07:13 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
请问,进行IR-drop分析时,静态分析和动态分析是不是要设不同的RC corner。看到某foundry 65nm的sign-off说明要求用动态分析+cworst进行IR-drop sign-off ,因此怀疑静态分析是不是应该用rcworst corner?请高人指点,谢谢。
发表于 2014-11-16 08:50:16 | 显示全部楼层
用typical corner或者ff corner ,
发表于 2014-11-16 18:20:20 | 显示全部楼层
楼主指的是参数抽取时候是用C,还是RC
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-24 11:14 , Processed in 0.018383 second(s), 9 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表