芯片ALL CUT 带来ESD问题

sunjimmy · 发表于 2013-7-9 15:28:30

類似附圖即為EMMI. 發亮點為因ESD Zapping而導致damage處漏電.
附圖中的damage是損壞在內部電路, I/O PAD 沒有 ESD damage.
EMMI example photo.bmp

alex_2012 · 发表于 2013-7-11 22:18:09

“在ESD测试中，CORE_PLL_AVDD与VDDE1V8互打时，PLL_AVDD会出问题。”
是不是照搬了其它地方的ESD设计啊？ESD器件是不是设计的太弱了？
“在+/-500V时，PLL_AVDD漏电较大50mA，但芯片工作正常。”
这个电流还没到latch up的电流啊。
“在+/-1000V时，PLL_AVDD漏电更大，芯片不能正常工作，但有的芯片对PLL_AVDD加压后，能正常工作”
看起来像是latch up了。

lyf821114 · 发表于 2014-2-8 11:19:05

内部坏了,是不是你们做的通过io的信号线进来次级保护电路不够强大或者根本没有次级保护电路呢？

semico_ljj · 发表于 2014-2-19 13:43:42

seeeing

i0977454522 · 发表于 2015-5-28 18:15:49

不同电源之间的ESD

18674017324 · 发表于 2015-7-16 10:14:05

来学习下

zyp96 · 发表于 2015-10-15 19:10:24

好似你这个问题我也碰到了，我的产品也是内部电路损坏了，而PAD周边的ESD管子没问题；我的电路是输入输出口电路，现在不知道是输入gate出了问题，还是输出drain给打坏了！这个因为靠的很近，EMMI根本看不清楚是那个问题！你那问题后来解决了没有啊！我这个输出drain端，有做大一点的且到gate的距离特意拉大了，且有加SAB层次；所以怀疑是不是输入电路gate这里出问题了？

DOONPENG007 · 发表于 2015-10-23 14:45:17

来学习的！

albertyin · 发表于 2015-10-24 06:13:42

@zyp96:
1. 看I/O 的I/V curve, 是漏电还是短路. gate损坏短路的可能性较小.
2. 看I/O输入和输出功能是否还有
3. 可以去层看drain端是否有损伤痕迹.
具体分析还需要更详细的信息.

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