ICC中scan和func模式同时在func条件下分析可行吗？

tcwyfrex

关于测试和功能两方面，按照传统的做法，有两种：
1.MMMC建立两种模式共同执行。
2.设case，只做function的，做完后PT分析scan模式下差多少hold，再补BUF。

现在碰到一种新手法，不设case，不设scenario，不用设新的sdc，总之什么事都省了。ICC优化时既能看到寄存器的D端也能看到SI端，这样SI端的HOLD问题能修掉，SETUP也不会有问题（测试模式频率要低10倍，而且date path延迟也要比功能模式下的低10倍），这样做可行吗？会有什么致命问题或者会牺牲什么代价？