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查看: 4849|回复: 13

[求助] DFT时对黑盒单元怎么处理,有这方面经验的进来交流下

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发表于 2013-3-11 20:00:52 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本人新学DFT,对我们的设计插入扫描链,但是对黑盒单元(ROM和SRAM)没有什么处理,只是设了dont_touch属性,
之后用TeTraMAX进行测试向量生成,测试覆盖率和故障覆盖率都在91%左右,报了一下详细的故障单元,发现AU(ATPG untestable)
的单元中有很多是黑盒单元输出路径上的,因此很疑惑到底有没有什么方法可以改善,希望有这方面经验的能指导一下。
发表于 2013-3-13 09:11:01 | 显示全部楼层
对于rom sram这样的macro,bypass就好了,也就是他的输入信号经过mux 进入到memory输出所接的触发器。
发表于 2013-3-13 16:09:12 | 显示全部楼层
memory是放在bist逻辑中测试的,dft可以不保证memory的测试。
 楼主| 发表于 2013-3-13 20:11:53 | 显示全部楼层
回复 2# yckai007


    谢谢!bypass是在RTL代码中手动添加还是在综合时使用命令添加?
 楼主| 发表于 2013-3-13 20:19:34 | 显示全部楼层




    谢谢!bypass是在RTL代码中手动添加还是在综合时使用命令添加?
发表于 2013-3-15 17:46:39 | 显示全部楼层
用寄存器实现的方法替换sram,然后跑atpg,这样会不会提高覆盖率呢?
 楼主| 发表于 2013-3-17 22:32:15 | 显示全部楼层
回复 6# iyama


    这个没试过,可能会提高。不过这样做有意义吗?
发表于 2014-2-26 15:37:59 | 显示全部楼层
回复 7# xiubo541038

请问你这个问题解决没有啊,如果绕过黑盒子啊,求告知具体命令和方式
发表于 2014-2-27 11:35:31 | 显示全部楼层
同问,我知道如果加入MBIST,则bypass是在做MBIST时工具自动添加的,但是如果不做MBIST,那么memory的bypass是在RTL阶段添加,还是在综合的时候,工具自动添加,还是在综合完成之后,在网表中手动添加?
发表于 2014-3-2 22:16:47 | 显示全部楼层
回复 9# zhangjirong


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