求助：芯片测试时候发现电源和地短路的可能原因

estyzq · 发表于 2012-2-13 14:35:31

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

x

请问各位，
我公司最近投了一片无源的RFID芯片，投片前的LVS没有问题，前端仿真时也没有问题，但是封装出来的片子进行测试的时候发现电源和地短路了，请问这是怎么原因？

tmp684 · 发表于 2012-2-14 22:33:19

會不會是package bound wire打壞了..
或是ESD已經掛了

sanxia · 发表于 2012-2-15 09:18:29

参考一下meteor_lxy 的这个帖子，和你的情况类似
【已解决】有人碰到过Calibre LVS通过但流片出来VDD和VSS短路的情况吗?
http://bbs.eetop.cn/thread-318954-1-3.html

robberxiong · 发表于 2012-6-7 20:51:18

首先看ERC有无错误报出？这个主要检查加的dummy 管是否接错，还有MOS管电容是否接反极性。
soft connect有无问题，这个主要看foundry的文件写的好不好，是否能检查完全。
最后看看封装有无错误了。

conniezhou · 发表于 2012-6-7 22:46:56

工艺上的DFM是否满足。
是否有比较长平行走线，而且间距是最小的。

不是lvs drc 通过，芯片就一定能work的。或者要check lvs 文件本身是否就是有bug，导致这样的错误。
比如在lvs drc 时忽略了不该忽略的warning or error。

icfbicfb · 发表于 2012-6-8 06:19:20

看看封装，esd的问题

damonzhao · 发表于 2012-6-14 11:00:56

关注ing~~~

hiyoun · 发表于 2012-6-22 11:12:36

也有可能流片出的问题哦

sunshuanghao · 发表于 2014-4-10 16:24:31

学习了

[求助] 求助：芯片测试时候发现电源和地短路的可能原因