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楼主: meteor_lxy

[求助] 【已解决】有人碰到过Calibre LVS通过但流片出来VDD和VSS短路的情况吗?

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发表于 2012-1-17 16:15:13 | 显示全部楼层
THX 楼主的热心和耐心的帮助。希望群里的大牛们都像楼主这样多多share这些实践经验。大赞楼主一个know this wafer lot can be accepted or not.
发表于 2012-1-17 16:57:04 | 显示全部楼层
回复 12# sanxia


    请教一下,
芯片的latch up效应是啥意思,怎么发生的啊?

谢谢啦~
发表于 2012-1-17 18:30:09 | 显示全部楼层
先恭喜楼主顺利解决问题


回复 22# xieqq

latch up,即闩锁效应,COMS中存在PNPN结构,其中寄生的BJT在一些条件下可以形成正反馈,以至于VDD-VSS之间电流越来越大,不及时关电源情况下,会造成芯片烧毁。
看看下面这个图,版图中一般做好电源和地的衬底接触,减小Rsub和Rwell来防止latch up发生。



latchup.JPG
发表于 2012-1-18 11:07:13 | 显示全部楼层
感谢楼主,这是一个具体的分析、排除、解决问题的过程。
发表于 2012-1-18 12:54:29 | 显示全部楼层
原来是封装造成的,我倒啊,

看来wafer test 还是很有用的,
发表于 2012-1-18 12:54:59 | 显示全部楼层
一般CP 放在FT 之前,就是为了测试wafer上对否,

如果FT 有问题,而cp 没问题,那肯定是封装的问题了
发表于 2012-1-23 20:07:33 | 显示全部楼层
还是foundry出了问题!
发表于 2012-1-30 16:36:46 | 显示全部楼层
谢谢LZ的善始善终,跟大家分享经验。学习了。
发表于 2012-1-30 22:58:21 | 显示全部楼层
感谢楼主的分享
问题描述,状况分析,详细的结果,
发表于 2012-2-6 11:03:29 | 显示全部楼层
学习了!!如此完整的过程。。

作为菜鸟还没遇到过各种奇异的事情。。
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