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Title : 靜電放電測試及防護
Introduction :
ESD 防護技術隨著CMOS 製程的先進演變而越來越困 難,然而世界先進國家的各大IC 廠商在ESD
防護上的研究 更趨熱烈,各式各樣的技術都被嘗試用在ESD 防護上,因 而已有六百多件ESD 相關
的美國專利已刊登出來。本文乃 就各種可能的技術中,介紹在CMOS 製程技術下較實用可 行的
ESD 防護設計給IC 相關設計者一個概念.
章結 :
第一章 簡介 (Introduction)
第二章 靜電放電的模式以及工業測試標準
第三章 靜電放電的測試
第四章 靜電放電防護設計之基本概念
第五章 傳輸線觸波產生器系統(TLPG System)
第六章 互補式金氧半積體電路之靜電放電防護技術
第七章 全晶片防護設計
第八章 靜電放電防護設計之案例探討
第九章 靜電放電防護技術相關之美國專利與研究論文
第十章 結 論 |
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靜電放電測試及防護.pdf
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內容 : ESD相關介紹以及設計上之相關考量
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