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楼主: zhujihan

[求助] 为什么电源线上的ESD 不希望有太低的holding voltage?

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发表于 2018-10-16 13:32:26 | 显示全部楼层
回复 26# Elliott

感谢分享,学习了!
发表于 2018-10-20 10:12:45 | 显示全部楼层
图像 1.png
发表于 2018-12-17 14:46:45 | 显示全部楼层
谢谢分享!
发表于 2019-1-22 10:18:54 | 显示全部楼层
感谢分享 学习了
发表于 2019-1-31 16:36:05 | 显示全部楼层
LU更多的是负向电压/电流造成的吧?
发表于 2019-3-13 10:40:46 | 显示全部楼层
好好读了下,很有收获,谢谢分享
发表于 2023-5-6 20:30:10 | 显示全部楼层


ckliu2332 发表于 2018-10-20 10:12
**** 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽 ****


请问你这张图来自哪里,没看懂,2和3有啥区别?为啥2 fail, 3是OK?
发表于 2024-7-18 15:46:39 | 显示全部楼层


hao zi liao xuexile
发表于 2024-12-12 19:20:55 | 显示全部楼层
Good discussion.. thanks for posting!
发表于 3 天前 | 显示全部楼层


zhukh 发表于 2011-7-18 09:11
静态的Latch-up测试分为V-type(对于电源)和I-type(对于IO)两种,电源上的过压测试(V-type)有可能触发ESD器件 ...


大神,您好,想继续追问一下,做电源pin 过压的latch-up测试时,加的这个电压允许超过ESD cell的Trigger电压吗?如果超过了,是不是就有可能导致ESD cell烧毁。另外,如果I/O口加正电流脉冲latch-up时,该I/O的电压钳位值(限压值)选取时,是不是也要考虑:不能超过该端口ESD cell的Trigger电压(latch-up测试时,由于其脉冲宽度比较长,如果ESD cell触发,如果电流虽然小于100mA,但可能由于时间长,有没有可能使得ESD cell产生热损坏)?对于Latch-up测试时,这个MSV电压值的设置有一些疑惑,希望得到一些专业指点,感谢!
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