请教ASIC中DFT的问题

losea · 发表于 2011-6-21 20:23:10

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

x

大家好！最近做一款芯片，上面有一个OTP和EEPROM，我想通过DFT的Scan去写OTP，并把EEPROM的测试放到DFT的Scan中。因为对DFT不怎么懂，想请各位给点提示！谢谢大家~~~~~

wrhwindboy · 发表于 2011-6-22 06:44:05

OTP不知道是啥？是不是模拟模块？模拟模块用通常的DFT SCAN是不能测试的。像RAM，ROM，AD，内嵌的FLASH等，这些都需要另外的测试方法。如RAM可以用MBIST的方法。FLASH的话可能也可以用BIST的方法，这个肯能还要FLASH HARD模块的结构来支持，EEPROM不知道有没有支持BIST的结构。

qqwang106 · 发表于 2011-6-27 14:21:16

dingyixiala

杀猪的日子 · 发表于 2011-7-25 23:48:07

你的想法是错误的

bjutzhang · 发表于 2011-8-6 10:57:19

EE和OTP可以另外设置testmode去测试和烧写，scan是不行的。。。

onabc · 发表于 2012-10-22 18:39:31

lala land

周小小 · 发表于 2012-11-2 11:21:05

学习~

zyl14051049 · 发表于 2012-11-4 21:52:57

谢谢啦

wwjsongjie · 发表于 2012-11-26 19:23:26

EEPROM可以做memory bist试试。存储体是不能做scan的。

Holtek12 · 发表于 2013-3-14 21:49:17

用 JTAG 吧, serial input 自行定義的 command, address, data, 引發內部的 R/W 機制.

[原创] 请教ASIC中DFT的问题

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

相关帖子

站长推荐 /2