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楼主: qko

[求助] 码密度法测试ADC inl dnl疑问

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发表于 2021-8-23 17:13:34 | 显示全部楼层


icdreamer 发表于 2011-3-31 23:02
有个文档不知道有没有用,从清华一个课件上截取的


前辈可以提供一下这个课件完整版吗,不胜感激
发表于 2021-11-12 10:47:07 | 显示全部楼层


hbchens 发表于 2011-4-18 16:29
在用sine wave做ADC测试静态特性时要注意的是:
1.相干采样(不过实际测试时因为有输入噪声,应该不会采到 ...


根据相干采样的公式fs/fi=N/M,N是采样的点数,要取两万点以上的话,好像N会特别大。最近在写测试INL DNL的matlab代码,对这里很不清楚。
发表于 2021-11-12 10:48:14 | 显示全部楼层


renjx 发表于 2021-5-7 11:03
你好,我想问一下,这个采几百万个点是对已经做出来的硬件进行测试吗,我目前在virtuoso里对ADC前仿,输 ...


你好,你解决了吗?我用matlab仿真取两万个点也要花很久时间。
发表于 2022-8-31 02:17:07 | 显示全部楼层


fumes 发表于 2016-4-6 11:47
回复 7# hbchens


可以的,可以通过多次抓取最后把数据拼接在一起,但是数据在拼接前要做预处理,截取整数个周期。
发表于 2022-8-31 02:26:40 | 显示全部楼层


renjx 发表于 2021-5-7 11:03
你好,我想问一下,这个采几百万个点是对已经做出来的硬件进行测试吗,我目前在virtuoso里对ADC前仿,输 ...


这里讲的是测试方法。测试时电路是有噪声的,所以可以利用噪声的随机性(就是说即使喂进去的是同一个信号也可以得到非重复的数据点)。仿真时电路是没有噪声的,所以直接用ramp信号仿真就可以的DNL/INL就可以了,每个码选5~10个点就够了,也就是如果要跑10-bit的ADC的话,最多也不会超5120~10240个数据点。或者直接跑动态特性看SNR也行,数据点更少,64,128或者256个点都可以。
仿真如果要带噪声(transient noise)跑的话就直接看动态特性。
发表于 2022-9-7 12:37:47 来自手机 | 显示全部楼层
建议看看IEEE std 1241,总测试点数与频率选取是相关的。同时源频偏,ADC噪声都会影响输入源频率/总点数的选取。不过工程上说,取一个足够大的总点数(百万计)能应对所有误差源。
发表于 2022-12-27 21:42:50 | 显示全部楼层


icdreamer 发表于 2011-3-31 23:02
有个文档不知道有没有用,从清华一个课件上截取的


感谢
发表于 2022-12-28 09:21:19 | 显示全部楼层
采样频率和输入信号频率要不相干,满足不相干采样,至于采样点数是2^N就可以,当然是越大越好,点数少可以多采样几个周期就好了
发表于 2023-4-4 13:09:46 | 显示全部楼层
感谢!
发表于 2024-2-26 15:13:50 | 显示全部楼层
谢谢
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