码密度法测试ADC inl dnl疑问

净月 · 发表于 2021-8-23 17:13:34

icdreamer 发表于 2011-3-31 23:02
有个文档不知道有没有用，从清华一个课件上截取的

前辈可以提供一下这个课件完整版吗，不胜感激

April1999 · 发表于 2021-11-12 10:47:07

hbchens 发表于 2011-4-18 16:29
在用sine wave做ADC测试静态特性时要注意的是：
1.相干采样（不过实际测试时因为有输入噪声，应该不会采到 ...

根据相干采样的公式fs/fi=N/M，N是采样的点数，要取两万点以上的话，好像N会特别大。最近在写测试INL DNL的matlab代码，对这里很不清楚。

April1999 · 发表于 2021-11-12 10:48:14

renjx 发表于 2021-5-7 11:03
你好，我想问一下，这个采几百万个点是对已经做出来的硬件进行测试吗，我目前在virtuoso里对ADC前仿，输 ...

你好，你解决了吗？我用matlab仿真取两万个点也要花很久时间。

hbchens · 发表于 2022-8-31 02:17:07

fumes 发表于 2016-4-6 11:47
回复 7# hbchens

可以的，可以通过多次抓取最后把数据拼接在一起，但是数据在拼接前要做预处理，截取整数个周期。

hbchens · 发表于 2022-8-31 02:26:40

renjx 发表于 2021-5-7 11:03
你好，我想问一下，这个采几百万个点是对已经做出来的硬件进行测试吗，我目前在virtuoso里对ADC前仿，输 ...

这里讲的是测试方法。测试时电路是有噪声的，所以可以利用噪声的随机性(就是说即使喂进去的是同一个信号也可以得到非重复的数据点)。仿真时电路是没有噪声的，所以直接用ramp信号仿真就可以的DNL/INL就可以了，每个码选5~10个点就够了，也就是如果要跑10-bit的ADC的话，最多也不会超5120~10240个数据点。或者直接跑动态特性看SNR也行，数据点更少，64，128或者256个点都可以。
仿真如果要带噪声（transient noise）跑的话就直接看动态特性。

BigGeGe · 发表于 2022-9-7 12:37:47

建议看看IEEE std 1241，总测试点数与频率选取是相关的。同时源频偏，ADC噪声都会影响输入源频率/总点数的选取。不过工程上说，取一个足够大的总点数（百万计）能应对所有误差源。

nohistory · 发表于 2022-12-27 21:42:50

icdreamer 发表于 2011-3-31 23:02
有个文档不知道有没有用，从清华一个课件上截取的

感谢

敬山一休 · 发表于 2022-12-28 09:21:19

采样频率和输入信号频率要不相干，满足不相干采样，至于采样点数是2^N就可以，当然是越大越好，点数少可以多采样几个周期就好了

Maons · 发表于 2023-4-4 13:09:46

感谢！

sdustyj · 发表于 2024-2-26 15:13:50

谢谢

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