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[求助] 码密度法测试ADC inl dnl疑问

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发表于 2011-3-30 17:44:06 | 显示全部楼层 |阅读模式

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码密度法测试ADC的INL和DNL时输入正弦波的频率和采样频率,采样点有什么关系?需要采样的周期是怎么确定的?

看了美信AN2085里面举了个例子,测MAX1193,8BIT,采样频率45M,输入信号频率5.6018M,
这不是一个周期只采样45/5.6018=8次?8bit256个台阶,每个台阶都采样不到一次?
 楼主| 发表于 2011-3-31 14:22:28 | 显示全部楼层
都没人回啊,自己顶上去。
 楼主| 发表于 2011-3-31 15:18:27 | 显示全部楼层
请高手解答。
发表于 2011-3-31 19:32:40 | 显示全部楼层
45/5.6018=8只是说明采样频率是信号频率的8倍。如果只采样信号的一个周期,的确会出现你说的情况。但是实际测试中,我们不可能只采样一个信号周期,而是采样N多个周期,即采样N多个点,才能采样到各个台阶。至于到底采样多少个数,MAXIM上面也有提到,是现成的公式,你可以看看。
发表于 2011-3-31 22:54:37 | 显示全部楼层
Just need to collect enough samples for calculating INL/DNL. Need to ensure no aliasing for input signal.
发表于 2011-3-31 23:02:54 | 显示全部楼层
有个文档不知道有没有用,从清华一个课件上截取的 CDT.pdf (489.06 KB, 下载次数: 1187 )
发表于 2011-4-18 16:29:14 | 显示全部楼层
在用sine wave做ADC测试静态特性时要注意的是:
1.相干采样(不过实际测试时因为有输入噪声,应该不会采到重复的点,不过最好能保证,无非就是调整仪器频率比较麻烦点)
2.采样的数据点数要足够多(对于10bit的ADC,最好采样点数大于200万点),当然这个取决于你需要的测量精度,本来这种码密度的算法就是靠概率统计来得出的。点太少了,测量结果就不可信了。
发表于 2012-9-29 17:35:52 | 显示全部楼层
多谢指点
发表于 2012-9-29 17:51:26 | 显示全部楼层
看看初步结果是不是采个1024或是4096个点就行了啊
发表于 2013-2-6 10:55:32 | 显示全部楼层
回复 7# hbchens

请问下如果用码密度法的话,输入信号的条件和测试动态参数的sine要求一样吗?
如果要满足 Fs/N=Fin/M 关系的话,N=200万,那输入信号Fin频率不就要很小了哈?多谢指点!
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