设为首页收藏本站
在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)

手机号码，快捷登录

手机号码，快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
创芯云服务  : 创芯大讲堂  | 创芯人才网 | 数字IC职业培训  EETOP诚邀线上IC培训讲师!
搜帖子
EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › 后端设计 › 后端资料区 › P AE效应的分析与解决 （天线效应）
返回列表 发新帖
查看: 2332|回复: 4

[资料] P AE效应的分析与解决 （天线效应）

[复制链接]
qdsoftware
发表于 2011-2-23 11:40:55 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看，没有账号？注册

x
摘要 ：P AE效应是芯片在加工过程中，静电对栅氧化层的破坏性击 穿效应。本文分析了 P AE的成因，  
提出了几种估量 P AE效应的算法 ，并提出了解决 P AE的方法。所提供的计算及解决方法成功地应用在 “ 龙
芯 ． I   CP U”的设计中，保证了芯片的加工过程没有 P AE效应出现 。
成功, 解决方法

PAE效应的分析与解决.pdf

114.04 KB, 下载次数: 138 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

相关帖子
回复

举报

zmn
发表于 2011-2-23 23:27:52 | 显示全部楼层
下来看看 谢谢楼主
EETOP创芯人才网职位发布入口
回复 支持 反对

举报

20062563
发表于 2011-2-25 17:37:28 | 显示全部楼层
下来看看 谢谢楼主
回复 支持 反对

举报

gyl1125
发表于 2011-2-26 09:43:54 | 显示全部楼层
下来看看 谢谢
EETOP创芯人才网职位发布入口
回复 支持 反对

举报

wanyihuang
发表于 2012-1-5 18:17:23 | 显示全部楼层
DINGDINGDINGDING...
EETOP创芯人才网简历投递入口
回复 支持 反对

举报

返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

小黑屋| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-5-3 15:58 , Processed in 0.024626 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表