感觉说的不大合理，楼主的分析是从直观上来讲的，还没有考虑噪声对跳变电平（或说转移电平，过渡电平）的影响，采样点数的增加不是单纯的把一段电压范围分成多少个等间隔这样理解，还要从统计学的角度考虑噪声对测试结果的影响。就算从楼主的分析角度来考虑，楼主说“对于码密度测试法，如果INL最大为8个LSB，达到1/10LSB的估计精度需要80个采样点“这样的话有误导性。假设ADC的满量程输入范围不变，总的采样点数（考虑采样点数均匀的分布于整个ADC的输入范围）就已经确定了相邻两点的采样间隔（采样间隔=ADC满量程输入范围/采样点数）。也就是说不论你的INL最大值为多少，我总的采样点数一旦确定就决定了楼主所谓的估计精度，这与INL的大小没必然关系（当然这种理解本身不准确）。再说楼主的那个伺服环测试法，按楼主的理解，这就是个二分测试法，楼主在比对码密度直方图法和伺服环测试法时说“如果ADC精度提高一位则码密度直方图法采样点数要提高一倍，而伺服环测试法每位只需要多一个点”。这个比较就是有问题的，码密度直方图法的总采样点数=每个码的平均采样点数 X 码个数，所谓的提高一倍只是码的个数多了一倍导致的，但要达到相同精度所需的平均每个码的采样点数是不变的。伺服环也是如此，ADC精度提高一位，伺服环测试法所需测试的码的个数也提高了一倍，假设平均每个码测试的总数不变，那伺服环测试所需的采样点数也提高了一倍。这里按楼主的意思好像是ADC精度提高一位，码密度直方图所需测试的码的个数提高了一倍而伺服环方法所需测试码的个数没变，这明显不对。这是我这个新人的一偏之见，还请各位同仁指正。
/2 
eetop公众号
创芯大讲堂
创芯人才网
发表于 2017-3-21 19:16:36
