在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 18113|回复: 40

[原创] scan and ATPG process guide (Mentor)

[复制链接]
发表于 2010-6-25 11:08:17 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
1. About this manual
2. Chapter 1 Overview
3. Chapter 2 Understanding Scan and ATPG Basics
4. Chapter 3 Understanding Common Toll Terminology
5. Chapter 4 Understanding Testability Issues
6. Chapter 5 Inserting Internal Scan and Test Circuit
7. Chapter 6 Generating Test Patterns
8. Chapter 7 Test Pattern Formatting and Timing
9. Chapter 8 Running Diagnostics

scan_atpg_process_guilde.pdf

1.68 MB, 下载次数: 668 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2010-6-25 21:42:57 | 显示全部楼层
好东西,谢谢
发表于 2010-6-26 08:22:20 | 显示全部楼层
做fscan时出现了C3的错误,怎么样去解决,请高手帮忙一下!
发表于 2010-6-26 09:34:28 | 显示全部楼层
1# yohuang
thank you very much.
发表于 2010-6-27 00:45:22 | 显示全部楼层
感谢分享资料
发表于 2010-7-8 16:26:01 | 显示全部楼层
感谢感谢
发表于 2010-7-24 22:15:08 | 显示全部楼层
Thanks a lot !!!!!!!
发表于 2010-8-2 10:50:28 | 显示全部楼层
WONDERFUL,GREAT SUPPORT
发表于 2010-8-2 13:44:33 | 显示全部楼层
不错的资料。
发表于 2010-8-11 22:27:41 | 显示全部楼层
good material!!!
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

×

小黑屋| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-5-28 14:35 , Processed in 0.031684 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表