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[Paper]Design of a CMOS Operational Amplifier Amenable to Extremw Voltage Stress

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发表于 2006-9-14 21:19:47 | 显示全部楼层 |阅读模式

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Abstract

Extreme voltage stress (EVS) is an attractive burn-in technique employed in production test to weed out weak chips that may cause infant mortality. Application of this technique to analog integrated circuit (IC) has, however, only achieved limited success due to the significant irregularity in circuit topology. This paper examines the issue of design for EVS in analog IC and presents several analog circuit structures use of which enhances voltage stressability of analog circuits. Based on proposed circuit concepts an operational amplifier is designed in TSMC 0.18μm CMOS technology and is simulated with HSPICE. Simulation results have shown that the designed operational amplifier is fully stressable with slight performance degradation.

Design of a CMOS Operational Amplifier Amenable to Extremw Voltage Stress.pdf

409.26 KB, 下载次数: 93 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2006-9-15 01:15:31 | 显示全部楼层
顶啊我
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发表于 2006-9-17 07:36:48 | 显示全部楼层
good book
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发表于 2006-9-17 20:29:56 | 显示全部楼层
thanks a lot!
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发表于 2006-9-17 20:33:46 | 显示全部楼层
好咚咚〉〉〉
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发表于 2006-9-17 21:06:41 | 显示全部楼层
自己下载下来研究研究,呵呵
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发表于 2006-10-12 00:28:00 | 显示全部楼层
Frequency Compensation Techniques For Low-Power Operational Amplifiers
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发表于 2007-8-12 21:15:46 | 显示全部楼层
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
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发表于 2007-8-12 22:23:30 | 显示全部楼层
呵呵
终于找到这个东东啦 好辛苦啊
谢谢 l z
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发表于 2007-8-15 12:56:51 | 显示全部楼层
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