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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › design for test standard
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楼主: enterchen

design for test standard

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zhangshaoxia
发表于 2010-5-4 22:20:14 | 显示全部楼层
十分感谢
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mich
发表于 2010-5-14 16:27:36 | 显示全部楼层
谢谢楼主
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lumianic
发表于 2010-7-6 15:14:32 | 显示全部楼层
thanks you
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shadowmoon3003
发表于 2014-10-20 16:01:21 | 显示全部楼层
论坛真是个好地方，希望这些资料我都能看完。
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sunsonliu
发表于 2014-10-21 10:26:37 | 显示全部楼层
回复 1# enterchen


   good paper.
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shizhulan
发表于 2014-10-24 10:44:55 | 显示全部楼层
谢谢啊！
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shizhulan
发表于 2014-10-24 10:45:39 | 显示全部楼层
谢谢！！！
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jimcmwang
发表于 2015-6-24 16:55:15 | 显示全部楼层
Design for Test.pdf (1.39 MB)
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brianz
发表于 2015-10-20 11:24:15 | 显示全部楼层
谢谢楼主
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datouyu451
发表于 2015-11-9 22:38:51 | 显示全部楼层
新手上路，急需养料
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