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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › design for test standard
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楼主: enterchen

design for test standard

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jimcmwang
发表于 2015-11-17 12:39:23 | 显示全部楼层
Design for Test.pdf (1.39 MB)
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guchance
发表于 2015-11-17 13:32:59 | 显示全部楼层
duoxie!!!
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aisijimoren
发表于 2016-4-11 14:48:11 | 显示全部楼层
看看design for test

谢谢楼主分享
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kongjava
发表于 2016-4-12 10:44:40 | 显示全部楼层
Great
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chengbaibai
发表于 2016-6-28 14:19:45 | 显示全部楼层
谢谢分享
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jimcmwang
发表于 2016-7-25 22:22:32 | 显示全部楼层
Design for Test.pdf (1.39 MB)
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lyf88
发表于 2016-8-12 14:33:49 | 显示全部楼层
谢谢了
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ujslisongting
发表于 2016-8-18 15:36:23 | 显示全部楼层
回复 1# enterchen


   这个必须怒赞一把~~~~~~~~~~~~
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jimcmwang
发表于 2016-8-22 13:51:57 | 显示全部楼层
Design for Test.pdf (1.39 MB)
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nguyenphucvy
发表于 2017-4-20 14:48:10 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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