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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › test pattern
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楼主: hxyufei

test pattern

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bobxx1234
发表于 2012-8-6 18:40:06 | 显示全部楼层
谢谢楼住分享……
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HOLLYSMOKE
发表于 2012-8-10 11:03:03 | 显示全部楼层
呃，好吧，这个是在ATPG之后的，先留着，没准往后有用。
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HIOK2000
发表于 2013-8-13 20:18:19 | 显示全部楼层
GOOD 正需要呀
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litaohqqt
发表于 2013-8-23 09:21:42 | 显示全部楼层
正好要用，多谢分享
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sulilittle
发表于 2013-9-6 15:15:30 | 显示全部楼层
學習學習～
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joeljun
发表于 2013-12-3 15:57:29 | 显示全部楼层
看看内容再说
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nuerhachidetian
发表于 2013-12-9 13:34:19 | 显示全部楼层
看看什么东西
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opqfeixue
发表于 2016-11-10 12:28:24 | 显示全部楼层
感谢分享。
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jimcmwang
发表于 2016-11-19 00:49:27 | 显示全部楼层
Test Pattern Validation User Guide.pdf (2.73 MB)
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suigi
发表于 2017-12-15 15:35:19 | 显示全部楼层
谢楼主
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