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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 芯片验证测试及失效分析
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楼主: liudc

芯片验证测试及失效分析

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colindeng
发表于 2008-10-16 11:22:43 | 显示全部楼层
确实是好东西.....
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wc200305
发表于 2008-10-17 21:49:07 | 显示全部楼层
thanks !!!!
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cdrom323
发表于 2008-10-18 01:41:42 | 显示全部楼层

3

eeeeee
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cdrom323
发表于 2008-10-18 01:42:32 | 显示全部楼层
thanks !!!!
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galinyan
发表于 2008-10-20 15:33:39 | 显示全部楼层
多谢分享！
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oulin99
发表于 2008-11-2 09:31:13 | 显示全部楼层
支持，谢谢。
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carson593
发表于 2008-11-2 22:06:56 | 显示全部楼层
hao hao hao hao hao
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colindeng
发表于 2008-11-3 14:16:55 | 显示全部楼层
感谢你无私分享
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bengdou37
发表于 2008-11-3 18:08:16 | 显示全部楼层
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DruculaC
发表于 2008-11-6 13:52:38 | 显示全部楼层
有关于可靠性测试的东西么？
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