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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 芯片验证测试及失效分析
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楼主: liudc

芯片验证测试及失效分析

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linktron_ic
发表于 2009-11-2 08:51:56 | 显示全部楼层
下了
但是发现被忽悠了
里面全是概论，几乎没有什么有用的实际应用价值
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chenghaibo
发表于 2009-11-16 10:28:10 | 显示全部楼层
have a look!
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fancy17
发表于 2009-11-27 23:24:53 | 显示全部楼层
thanks for your sharing
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82314272
发表于 2009-11-27 23:30:20 | 显示全部楼层
顶一个
感谢分享
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vanguard
发表于 2009-11-29 18:44:41 | 显示全部楼层
多谢分享！
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26505423
发表于 2009-11-30 00:22:08 | 显示全部楼层
支持楼主
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toj
发表于 2009-12-5 22:38:00 | 显示全部楼层
thandks for sharing
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qqqqpangzi
发表于 2009-12-6 22:34:24 | 显示全部楼层
非常感谢楼主的分享
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qqqqpangzi
发表于 2009-12-6 22:47:56 | 显示全部楼层
haodongxi,ganxie louzhu de fengxiang
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peter_wx
发表于 2009-12-7 22:10:11 | 显示全部楼层
GOOD PAPER
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