在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
楼主: fuyibin

请教:PCM验收规范,PCM的中文意思/英文全称是什么?

[复制链接]
发表于 2009-6-15 11:39:53 | 显示全部楼层
哦。。。。。。。。。。。。。。。。。
发表于 2009-9-22 16:54:50 | 显示全部楼层


原帖由 piao 于 2009-5-23 00:04 发表 通产会在划片槽中做几个器件,在芯片制造好后,通过测试,可以知道晶圆的工艺是否符合标准,或者处于3 sigma的啥位置。 有些公司需要额外的地方,有些地方做在划片槽里。



you right point!

Integrated circuit process control monitoring (PCM) data and wafer ...    3 sigma or 6 sigma
发表于 2010-12-22 10:33:15 | 显示全部楼层
学习了
发表于 2010-12-22 10:38:26 | 显示全部楼层
Process control monitor
发表于 2010-12-22 15:47:23 | 显示全部楼层
Process control monitor
用来监控晶圆的均一性和偏差的
发表于 2011-7-25 14:15:16 | 显示全部楼层
process compact model
发表于 2011-7-25 14:24:42 | 显示全部楼层
同问???
发表于 2024-5-8 09:43:12 | 显示全部楼层


piao 发表于 2009-5-23 00:04
通产会在划片槽中做几个器件,在芯片制造好后,通过测试,可以知道晶圆的工艺是否符合标准,或者处于3 sigm ...


请问做在划片槽里的话划片的时候岂不会把这些测试器件划坏了?
发表于 2024-5-8 09:48:52 | 显示全部楼层


邓小力 发表于 2024-5-8 09:43
请问做在划片槽里的话划片的时候岂不会把这些测试器件划坏了?


都测好了, 封装的时候也不需要了, 为啥不能划坏呢
发表于 2024-5-8 15:21:22 | 显示全部楼层


piao 发表于 2024-5-8 09:48
都测好了, 封装的时候也不需要了, 为啥不能划坏呢


但是测试也需要划片之后才能测试呀
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-25 05:31 , Processed in 0.023972 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表