急求！寄存器出现固定型故障，如何定位问题？

zmxreal

芯片测试出现了寄存器失效的问题，失效主要表现为固定型故障（Stuck At Fault），即寄存器的输出固定为0(SA0)或1（SA1）。具体表现为无论I2C或CPU读写，某寄存器的某一比特位都固定为0或1，出错的寄存器及比特位具有随机性（有一小部分值不稳定，读出的值在0,1之间不停跳变）。    出错的寄存器具有随机性，且失效的概率也没有发现明显差别，在版图上分布也比较随机。
    升高数字电源电压或者关掉一部分数字电路，有50%以上概率又能恢复正常读写状态。
    降低主频（降低至1/4）或者降低温度（25℃至-30℃），寄存器基本不能从读写出错状态恢复正常。但观察到少数情况下，降低温度或者降低数字时钟频率，芯片可以从固定出错状态变到0/1跳变的状态，或者从0/1跳变状态恢复到正常的情况。


    另外用的工艺从0.18shrink到0.153的，自己改过工艺库，偷了一部分rule。


    大家有没有遇到过类似问题，能不能帮忙提供一些思路，感激不尽！