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[资料] 半导体器件的失效机理和模型-整理版本

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发表于 2024-11-28 10:38:54 | 显示全部楼层 |阅读模式

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半导体器件的失效机理和模型-整理版本
<Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices>


1、整体体系框架——参照JEP122 H版本;
2、内容为网络搜集,侵删;

3、只作为学习用,禁止用于商业行为;
微信截图_20241128100539.png

半导体器件的失效机理和模型-整理版本.zip

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 楼主| 发表于 2025-3-21 09:51:36 | 显示全部楼层
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【专题】芯片HTOL寿命估算.pdf

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IC设计中的四种常见失效机理:EM, TDDB, NBTIPBTI, HCI.pdf

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