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[资料] 半导体器件的失效机理和模型-整理版本

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发表于 2024-11-28 10:38:54 | 显示全部楼层 |阅读模式

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半导体器件的失效机理和模型-整理版本
<Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices>


1、整体体系框架——参照JEP122 H版本;
2、内容为网络搜集,侵删;

3、只作为学习用,禁止用于商业行为;
微信截图_20241128100539.png

半导体器件的失效机理和模型-整理版本.zip

19.11 MB, 下载次数: 82 , 下载积分: 资产 -6 信元, 下载支出 6 信元

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发表于 2024-11-28 10:43:38 | 显示全部楼层
zhichi
发表于 2024-11-28 10:51:30 | 显示全部楼层
ganxie
发表于 2024-11-28 10:53:16 | 显示全部楼层
谢谢
发表于 2024-11-28 16:50:22 | 显示全部楼层
谢谢
发表于 2024-11-28 16:51:01 | 显示全部楼层
#在这里快速回复#谢谢
发表于 2024-11-29 01:34:10 | 显示全部楼层
多谢分享
发表于 2024-11-29 09:26:54 | 显示全部楼层
感谢分享
发表于 2024-11-29 09:39:57 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2024-11-29 09:58:46 | 显示全部楼层
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